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    国家纳米科学中心团队绘制了单层MoS₂的元素掺杂图谱

    发布时间:2026-03-26

        二维半导体材料,如过渡金属硫属化合物(TMDs),因其原子级厚度和优异性能,被视为延续摩尔定律的候选材料。实现对二维半导体材料导电类型和磁学性质的精准掺杂,是构筑功能电子器件的重要基础。但是现有的化学气相沉积无法实现二维半导体材料的普适性掺杂。

        为解决这一挑战,国家纳米科学中心谢黎明团队打出了一套精妙的“组合拳”。第一时间,研究团队自主研发了耐高温光学显微镜,能够耐受950°C的高温,如同在化学气相沉积(CVD)的“炼丹炉”内装上了“千里眼”,实现了对MoS₂单层生长过程的实时、原位观察,这为晶体生长过程给予了前所未有的视角(Nano Lett. 2024, 24, 5498)。利用这一独特技术,开展了单层过渡金属二硫族化合物的液相边缘外延(LPEE)生长技术(J. Am. Chem. Soc. 2023, 145, 11348),为在二维材料生长过程中引入掺杂元素奠定了方法基础。

        在近期发表的工作中(Adv. Mater. 2026, 0: e22574),研究团队利用液相边缘外延生长技术,成功将超过40余种元素掺入MoS₂单层中,掺杂元素涵盖过渡金属、稀土金属及主族元素,构建了现在国际上元素种类最丰富的二维半导体掺杂数据库。取得了稀有的p型导电晶体管(Ti,Zn和Au掺杂)、软磁半导体(Ce、Nd、Dy和Ho掺杂)。此外,第一性原理计算表明,过渡金属元素在MoS₂中的掺杂行为与其在周期表中的分组有显著关联:ⅢB至ⅦB族元素倾向于取代Mo位点,ⅠB和ⅡB族元素易于在晶格表面形成吸附构型,第Ⅷ族元素的掺杂构型较为多样。该工作为未来利用MoS₂材料体系,顺利获得选择性掺杂直接构建出p型、n型乃至金属导线和磁性单元的全MoS₂集成电路,给予坚实的材料基础。”

    该工作由国家纳米科学中心-大阪大学合作实验室、北京科技大学等单位合作完成。国家纳米科学中心的Zunaira Urooj、毛君旭,北京科技大学的李猷,大阪大学的Haiming Sun为本文的共同第一作者;通讯作者包括国家纳米科学中心的谭婷研究员、谢黎明研究员,北京科技大学的齐俊杰教授,日本大阪大学的Kazutomo Suenaga教授。


      

    论文链接:http://doi.org/10.1002/adma.202522574